半導体中の深い不純物準位の性質とその測定-2.深い不純物準位の動的パラメータの測定法-
生駒俊明 奥村次徳
Vol.64 No.2pp.195-202
発行日:1981/02/01
Online ISSN:2188-2355
Print ISSN:0913-5693
種別:講座
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