あらまし

半導体集積回路の欠陥とテスト技術

井上　智生 

Vol.103 No.1pp.62-67

発行日:2020/01/01

Online ISSN:2188-2355

Print ISSN:0913-5693

種別:解説

専門分野:

キーワード:
欠陥, 故障モデル, テスト生成, テスト容易化設計, 

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あらまし:
今日の半導体集積回路は，その微細化と高集積化がゆえに，設計どおりに正しく製造することや，出荷後に正しく動作させることが困難になっている．本稿では，半導体集積回路における欠陥と故障モデルを紹介し，故障を検出するためのテスト手法及びテスト容易化設計法を紹介する．更に，最新の半導体技術における種々の課題について述べる．

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