あらまし

交流バイアス法による半導体装置の接合容量の新しい測定方法

佐藤秋比古 堺満雄 鈴木彰 

Vol.42 No.9pp.803-809

発行日:1959/09/01

Online ISSN:2188-2355

Print ISSN:0913-5693

種別:論文・資料

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