画質解析・評価のための色彩工学

中口　俊哉; 津村　徳道; 三宅　洋一

あらまし

画質解析・評価のための色彩工学

中口　俊哉津村　徳道三宅　洋一

Vol.91 No.4pp.280-286

発行日:2008/04/01

Online ISSN:2188-2355

Print ISSN:0913-5693

種別:小特集　イメージメディアの美しさを支える基盤技術

専門分野:

キーワード:
色彩工学；デバイスインディペンデント色再現；質感工学；偏角分光イメージング,

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あらまし:
画質の解析・評価を行うためには色彩を定量的に計測・解析する必要がある．本稿では色彩工学の基本となるデバイスインディペンデントな色再現手法としてXYZ表色系，CIE LAB均等色空間，そして色差の導出について解説する．また，色彩工学を評価に応用した例としてフラットパネルディスプレイの画質評価研究を紹介し，主観的評価と物理的測定の関係を述べる．最後に色彩工学の次のステップとして注目を浴びている「質感」を取り上げ，質感の測定手法として偏角分光イメージング法を紹介し，質感工学の今後の展望を述べる．

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