あらまし

半導体中の深い不純物準位の性質とその測定－1．半導体中の深い不純物準位の電気的・光学的性質－

生駒俊明 奥村次徳 

Vol.64 No.1pp.59-66

発行日:1981/01/01

Online ISSN:2188-2355

Print ISSN:0913-5693

種別:講座

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